光纤光谱仪
光谱学是测量紫外、可见、近红外和红外波段光强度的技术。光谱测量被广泛应用于多种领域，如颜色测量、化学成份的浓度测量或辐射度学分析、膜厚测量、气体成分分析等领域。
在上世纪九十年代以来，微电子领域中的多象元光学探测器（例如CCD，光电二极管阵列）制造技术迅猛发展，使生产低成本扫描仪和CCD相机成为可能。德国MUT公司的光谱仪使用了同样的CCD(CCD光谱仪)和光电二极管阵列探测器，可以对整个光谱进行快速扫描，不需要转动光栅。
光纤光谱仪通常采用光纤作为信号耦合器件，将被测光耦合到光谱仪中进行光谱分析。由于光纤的方便性，用户可以非常灵活的搭建光谱采集系统。
光纤光谱仪LED测量
简单而且迅速地测量LED的整个光通量的方法就是使用一个积分球，并把它连接到一个美国海洋光学公司的光谱仪上。该系统可以用卤素灯进行定标（LS-1-CAL-INT），然后用广州标旗软件从测量到的光谱分布计算出相关参数，并实现辐射量的测量。所测光源的光谱发光强度还可以用μW/cm2/nm来计算、显示并存储。另外的窗口还可以显示大约10个参数：辐射量μW/cm2, μJ/cm2, μW或μJ；光通量lux或lumen，色轴X, Y, Z, x, y, z, u, v和色温。
光纤光谱仪薄膜厚度测量
光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。配套的广州标旗应用软件包括丰富的各种常用材料和膜层的n值和k值，可以实现膜层厚度的在线监测，并可以输出到Excel文件进行过程控制。
便携式光纤光谱仪
便携式光纤光谱仪能够提供植被化指数（NDVI）和植被等物质的红光与近红外的比值。这些指数能够用来作为农学参考，反映作物对于养分的响应、作物生长条件、潜在产量、应力以及病虫害的影响等。
该系统也可以用来监测作物生长期间，田间（作物、植被）环境的变化，或者对比不同施肥量与当准施肥量之间所产生的差异。
软件中积分时间的可由用户设定，它类似于一个照相机的快门速度：积分时间值即是探测器“察看”所进入光子的总体时间。
因为，探测器有一个电子快门，你可通过软件设定zui小积分时间到10μs，这样就允许你可以测量像激光脉冲如此短暂的事件。使光谱仪的积分时间缩短的能力也消除了在高光水平应用领域如激光分析的饱和度问题。
